国外R&D溢出路径及其效果
郭庆宾张本金
Foreign R&D Spillover Paths and Effects
Guo QingbinZhang Benjin
. 2010, (12): 0 -0 . 

网站版权所有 © 2022 《工业技术经济》编辑部
地址：长春市深圳街940号 邮编：130033 联系电话：0431-85667074 E-mail:gyjs2005@sina.com
本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发