杜氏综合征(45,X)及嵌合体型杜氏综合征(45,X/46,XX)在诊断上所必需的染色体检查数的统计学探讨

首都医科大学学报 ›› 1982, Vol. 3 ›› Issue (1): 79-82.

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杜氏综合征(45,X)及嵌合体型杜氏综合征(45,X/46,XX)在诊断上所必需的染色体检查数的统计学探讨

崔允文, 陈仁校

收稿日期:1900-01-01 修回日期:1900-01-01 出版日期:1982-01-15 发布日期:1982-01-15

Received:1900-01-01 Revised:1900-01-01 Online:1982-01-15 Published:1982-01-15

摘要/Abstract

摘要： 现在,多数临床捡查正在步入自动化。但是,染色体的核型分析仍需大量劳动和娴熟技术。作者等从统计学角度探讨了在诊断上所需染色体检查数的最低下限值。

崔允文;陈仁校. 杜氏综合征(45,X)及嵌合体型杜氏综合征(45,X/46,XX)在诊断上所必需的染色体检查数的统计学探讨[J]. 首都医科大学学报, 1982, 3(1): 79-82.

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